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發布時間：2025-06-25 11:35:32 人氣：298
在科研、航天和工業等領域，準確的溫度測量對于設備的穩定運行和實驗的準確結果至關重要。今天小編帶您了解麥迪森科技的CTS型熱偶饋通，設計用于滿足高精度、多點測溫的應用場景。
產品簡介
CTS型熱偶饋通基于對CTS儀器饋通進行升級設計，采用K型熱偶插針，以實現在較小空間內對多個位置溫度進行精準測量，提供可靠的溫度監測解決方案。
圖1：CTS熱偶（3對）饋通的真空連接器MT121-DSCON-6CTS-TCK3-VAC
圖2：焊接于CF40法蘭的熱偶饋通MT120-6CTS-DS-C40-GTCK3
圖3：I類K型熱偶正極插針MT105-TCKPF-CR和負極插針（有磁性）MT105-TCKPF-AL
產品特點
1. 標準接口：采用MIL-C-26482圓形接口標準，兩端均使用螺紋連接。這使得CTS型熱偶饋通能夠輕松與現有的航天、科研或工業設備對接，無需額外定制外接插頭，提高設備兼容性和安裝效率。
2. 精確測溫：CTS型熱偶饋通內部針腳及對接母針均采用K型熱電偶材料，確保測溫信號的精確性和穩定性。
3. 密封性能：采用玻璃陶瓷封裝技術，漏率低至<1×10-12Pa·m3/s He，為真空系統提供可靠的密封性，確保真空環境的穩定。
4. 耐高溫性能：熱電偶導體和封接材料具有出色的耐高溫性能，通常工作溫度范圍可達-200°C至+250°C。
5. 靈活配置：熱電偶數量可選3/5/9/16/20對，根據實際需求靈活選擇。使用CF40法蘭最多可安裝20對熱偶，滿足您在復雜設備中多點測溫的需求。
應用場景
CTS型熱偶饋通由于其出色的性能和靈活的配置方案，廣泛應用于以下場景：
1. 高真空、超高真空環境系統的多點測溫：例如用于真空熱處理設備中，可以同時測量真空腔壁、腔體內設備、樣品托等多個位置的溫度；也可以用于實驗室加熱系統，如分子束外延系統(MBE)中，同時測量樣品區、加熱區、背景溫區等多個區域的溫度。
2. 半導體制造和測試設備的溫度控制：例如CVD 中同時測溫反應腔底部、側壁與基片，監控反應區溫度分布，控制沉積速率、均勻性；在晶圓加熱平臺中監測不同位置的溫度，以實現均熱控制。
3. 熱真空測試與空間模擬：例如衛星部件或材料在真空+高低溫環境下的熱循環試驗。
麥迪森科技致力于為科研與工業界提供可靠的真空電氣解決方案。如需了解更多產品詳情或獲取定制化解決方案，歡迎聯系我們的技術團隊。
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